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OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统

● OmniFluo “卓谱”系列——基本型

基本型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和荧光激发光谱测量，PL光谱仪公司，其系统架构与荧光分光光度计基本一致，却有效的增加了近红外升级功能，扩展了测量范围。

● OmniFluo “卓谱”系列——PL扩展型

PL扩展型OmniFluo “卓谱”系统，PL/PLE的整合测量，有效解决了氙灯光源在某些实验中的激发光能量不足的问题；同时还方便用户增加**低温样品制冷机，PL光谱仪生产厂家，非常方便于稀土发光材料的发光性能研究。● OmniFluo “卓谱”系列——TRA扩展型

TRA扩展型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和透射、反射/吸收（TRA）光谱测量功能，可用于透光型材料的多种光谱表征。

OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数

● 激发光源：HeCd激光器

● 激发光功率： 20mW

● 激发波长：325nm

● 瑞利散射截止滤光片，PL光谱仪，OD>6

● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）

● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）

● 波长准确度：±0.2nm

● 波长重复性：±0.1nm

● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm

● 可选配闭循环**低温制冷机，*低温度可达2K

● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量

● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

Flex One 显微光致发光光谱仪

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，PL光谱仪厂家，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。